装置管理番号
1119
装置設備名称
走査型プローブ顕微鏡
メーカー
SII
商品名・型式
SPA400
性能・仕様
カンチレバーを交換することにより原子間力顕微鏡(AFM)測定、ダイナミックフォースモード(DFM)測定ができます。走査エリア/形状:100nm~20μm/1μm以下の凸凹
設備概要・用途
先端が数nmの細く尖った探針で試料表面を走査することで、高倍率な立体形状観察と物性分析を行う顕微鏡です。
対象試料
固体
設置場所
その他・注意事項